中國IDC圈4月19日報道，大大都數(shù)據(jù)中心都是經(jīng)心設(shè)計而成的，許多人都誤覺得這樣的數(shù)據(jù)中心只要追求高功能低能耗之外就可以了。因此，人們往往會健忘清潔、潔凈的情況對付數(shù)據(jù)中心有著重要的意義。有些數(shù)據(jù)中心甚至大概會因為戶外顆粒或氣體污染物的進(jìn)入而處于有害情況中，在一些環(huán)境下，污染物尚有大概形成于數(shù)據(jù)中心內(nèi)部。為了制止數(shù)據(jù)中心的打點者們健忘這么重要的一點，本日我們就數(shù)據(jù)中心情況問題舉辦簡樸的探討。

氛圍污染物對數(shù)據(jù)中心造成的影響主要分為三類：化學(xué)影響、機(jī)器影響和電學(xué)影響。電路板中的銅蠕變腐化和小型外貌安裝組件中的鍍銀腐化是兩種常見的化學(xué)妨礙。機(jī)器影響包羅散熱片污染、光信號*、摩擦力增大等，電學(xué)影響包羅電路阻抗和電弧的變革等。請留意，縮小電路板成果部件的尺寸并實現(xiàn)組件的小型化是改進(jìn)硬件機(jī)能的須要條件，可是也會使硬件更易受到數(shù)據(jù)中心情況中的污染物的影響。制造商們一直致力于在不絕縮小成果部件尺寸的同時維持硬件的靠得住性，卻又無需采納特另外高本錢法子來增強(qiáng)所有的IT設(shè)備。他們的大大都IT設(shè)備都并非安裝在腐化脾性況中，腐化脾性況會使設(shè)備面對更高的妨礙風(fēng)險。

通過監(jiān)控數(shù)據(jù)中心的粉塵和睦體污染物來維持硬件的靠得住性，這是數(shù)據(jù)中心打點員的職責(zé)，數(shù)據(jù)中心的潔凈水平必需到達(dá)ISO14644-18級的尺度。一般而言，只要回收以下所列的相應(yīng)過濾方案，就能到達(dá)這樣的潔凈級別：

1.可按ANSI/ASHRAE尺度127-2007"Method of Testing for Rating Computerand Data Processing Room Unitary Air Conditioners"中的發(fā)起，利用MERV8過濾器不絕地過濾室內(nèi)氛圍；

2.可按標(biāo)題為"Particulate and Gaseous Contaminationin Datacom Environments"的ASHRAE書籍中的發(fā)起，利用MERV11或MERV13過濾器過濾進(jìn)入數(shù)據(jù)中心的氛圍。該當(dāng)淘汰數(shù)據(jù)中心內(nèi)部的粉塵源。

氣體污染物應(yīng)切合已修改的ANSI/ISA-71.04-1985安詳級別G1，以滿意以下條件：

1.銅回響率低于300C/月。

2.銀回響率低于300C/月，對付含有大量氣體污染物的數(shù)據(jù)中心，強(qiáng)烈發(fā)起對進(jìn)入數(shù)據(jù)中心的氛圍及數(shù)據(jù)中心內(nèi)部的氛圍舉辦氣相過濾。要維持IT設(shè)備的高度靠得住性，并制止保修范疇以外的硬件改換本錢，請遵守此地方列的要求，這一點至關(guān)重要。

氛圍粉塵由粉塵引起的妨礙包羅（但不范圍于）以下幾種（ASHRAE2009a）：

機(jī)器影響

這些影響包羅阻礙冷卻氣流、*移動部件、磨損、光過問干與、互聯(lián)*、外貌變形（譬喻，磁性媒體）以及其他的雷同影響；

化學(xué)影響

落在印刷電路板上的粉塵會導(dǎo)致組件腐化和/或鄰近的相隔成果部件短路；

電學(xué)影響

這些影響包羅阻抗變革和電子電路導(dǎo)體產(chǎn)生橋接。

粉塵無處不在，即便采納最好的過濾法子，數(shù)據(jù)中心內(nèi)照舊會有粉塵。這些粉塵會落在電子硬件上。幸運的是，大大都粉塵都是無害的。只有在少數(shù)環(huán)境下，粉塵才會侵蝕電子硬件。

一般而言，數(shù)據(jù)中心內(nèi)的有害粉塵中均含有大量離子，好比氯鹽。這些有害粉塵主要來自直徑為2.5-15μm的室外粗塵以及直徑為0.1-2.5μm的室外微塵（Comizzoli1993）。粗塵顆粒中包括各類礦物性和生物性污染物（大多是因風(fēng)蝕而形成的），可在氛圍中逗留數(shù)日。微塵顆粒一般是由礦物燃料燃燒以及火山勾當(dāng)所形成的，可在氛圍中逗留數(shù)年。各類龐大的鹽水體也是數(shù)據(jù)中心氛圍粉塵污染物的一個主要來歷，沿海地域的強(qiáng)風(fēng)可將海鹽向本地偏向吹進(jìn)10公里（6英里）可能更遠(yuǎn)，而這些海鹽可以或許破壞這一范疇內(nèi)的電子設(shè)備（Bennett1969；Crossland1973）。

從情況中接收濕氣是粉塵損害印刷電路板靠得住性的途徑之一。濕塵中的離子污染物會低落印刷電路板外貌的絕緣阻抗，更糟糕的是，它們還會通過離子遷移導(dǎo)致鄰近的相隔成果部件短路。

潮解相對濕度是指，粉塵接收足夠的水分變濕從而導(dǎo)致腐化和/或離子遷移時的相對濕度，這一濕度抉擇了粉塵的腐化性。當(dāng)粉塵的潮解相對濕度高于數(shù)據(jù)中心的相對濕度時，粉塵處于干燥狀態(tài)，不會造成腐化可能離子遷移。然而，在少數(shù)環(huán)境下，當(dāng)粉塵的潮解相對濕度低于數(shù)據(jù)中心的相對濕度時，粉塵就會接收濕氣而變濕并導(dǎo)致腐化和/或離子遷移，從而低落硬件靠得住性。Comizzoli等人在1993年所舉辦的某項研究顯示，在全球各地，由逗留在印刷電路板上的粉塵而引起的泄泄電流城市跟著相對濕度的提高而泛起指數(shù)級的增長。這項研究使我們獲得了以下結(jié)論：將數(shù)據(jù)中心的相對濕度保持在60%以下，這樣可以將由逗留的微塵而激發(fā)的泄泄電流保持在可接管的次μA級范疇內(nèi)。